顯微分光光度計DUV-VIS-NIR

顯微分光光度計DUV-VIS-NIR

型號：MSP100/MSP300/MSP400/MSP450/MSP500

顯微分光光度計（Micro-Photometer，Micro Spectrophotometer）用于表征在微米區域內的薄膜，厚涂層的光學特性。顯微分光光度計也稱為微反射計，顯微光譜儀，顯微光度計，顯微光譜光度計等。用戶可實時視頻，*的數字編輯，反射測量工具享受顯微光譜儀（MSP系列）的數字成像功能，透射，吸收光譜，數據采集??僅需幾毫秒。TFProbe軟件允許用戶設置加熱階段或冷卻階段以實時進行動力學研究，以了解光學性質的變化，例如反射率，透射率，涂層厚度，折射率（光學常數）等。在具有電動XY載物臺或Rho-Theta載物臺的各種顯微分光光度計型號中，還提供自動映射功能，以及電動聚焦功能。波長范圍通常是用戶要考慮的重要因素。此顯微分光光度計涵蓋從深紫外線（DUV）到近紅外（NIR）范圍。應該考慮哪個范圍取決于幾個因素，例如薄膜或厚涂層的厚度范圍是多少，反射率或透射率光譜的典型波長范圍是什么等等。顯微分光光度計已用于各個領域，例如納米晶圓廠，法醫，醫學，MEMS，MEOMS，生物，化學等。

我們提供了三種分光光度計的標準配置。MSP100覆蓋250至1000nm（DUV-Vis）。系統將附帶一個DUV-Vis全范圍物鏡。MSP300的波長范圍為400至1000nm，用于可見反射或透射光譜測量。MSP300適用于厚膜厚度測量。MSP500涵蓋從DUV到NIR的全范圍（250-1700nm）。可以自定義其他波長范圍或功能以滿足您的應用。

應用范圍：

半導體制造（PR，氧化物，氮化物..）

液晶顯示器（ITO，PR，液晶盒間隙…..）

法醫，生物膜和材料

油墨，礦物學，顏料，碳粉

藥品，醫療器械

光學涂料，TiO2，SiO2，Ta2O5…..

半導體化合物

MEMS / MOEMS中的功能膜

非晶，納米和晶體硅

PET上的硬涂層

特征：

*光學器件和堅固的設計可實現較長的正常運行時間和好的系統性能

基于陣列的探測器系統可確保快速測量

價格合理，便攜式且占地面積小的桌面設計

在微米尺寸區域內多可測量5層膜的厚度和折射率

允許以毫秒為單位獲取反射，透射和吸收光譜

能夠用于實時光譜，厚度，折射率監測

系統附帶全面的光學常數數據庫和庫

*軟件允許用戶為每個單獨的膠片使用NK表，色散或合成模型（EMA）

集成的視覺，光譜，模擬，膜厚測量系統

適用于許多不同類型的基板，具有不同的厚度和尺寸

深紫外線可以測量超薄膜的厚度及其帶隙

2D和3D輸出圖形用于映射功能和用戶友好的數據管理界面

*成像軟件可進行尺寸測量，例如角度，距離，面積，顆粒計數等

提供多種選項以滿足特殊應用

系統配置：